Elettronica dello Stato Solido Lezione 13: Trasporto elettrico nei semiconduttori Daniele Ielmini DEI – Politecnico di Milano [email protected] Outline • • • • • Introduzione Diagramma a bande Corrente di drift Corrente di diffusione Conclusioni D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 2 Introduzione • Siamo ora in grado di calcolare la densità di corrente • La densità di corrente contiene normalmente due contributi, di drift (trasporto guidato dal campo elettrico) e di diffusione (trasporto guidato da sbilanciamento di concentrazioni) • Per ottenere informazioni riguardo la distribuzione dei campi elettrici e dei portatori, è utile far ricorso al diagramma a bande D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 3 Diagramma a bande E E EC EV E EF g(E) f(E) • Il diagramma a bande viene usato estensivamente per la discussione del funzionamento di dispositivi elettronici (e.g. diodi, MOSFET) • Si riporta il minimo della banda di conduzione EC ed il massimo della banda di valenza EV • In genere si riporta anche EF ed Ei D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 x 4 Portatori e loro deriva • Cerchi pieni indicano elettroni, vuoti le lacune • Elettroni e lacune si muovono in senso opposto in risposta ad un campo elettrico, e.g. se il campo F è diretto verso gli x positivi il moto delle lacune è in +x, degli elettroni in -x F D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 5 Portatori e loro energia cinetica • L’energia cinetica degli elettroni in banda di conduzione è data da E-EC, infatti: mev e2 k2 E EC EC 2me 2 2 • L’energia cinetica delle lacune in banda di valenza è data da EV-E infatti: mhv h2 k2 E EV EV 2mh 2 2 • Quindi l’energia cinetica degli elettroni si misura verso l’alto, delle lacune verso il basso Energia cinetica elettroni D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 Energia cinetica lacune 6 Portatori e loro energia potenziale • Elettroni in banda di conduzione: l’energia potenziale è data da –qV = en. totale – en. cinetica = E-(E-EC) = EC (a parte una costante arbitraria) • Lacune in banda di valenza: l’opposto dell’elettrone = qV • Potenziale elettrostatico: EC V q • Campo elettrico: dV 1 dEC F dx q dx • Densità di carica: dF dx D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 7 Esempio: potenziale lineare V F x x x D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 8 Esempio: potenziale quadratico V F x x x D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 9 Esempio: cariche contrapposte V F x x x D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 10 Outline • • • • • Introduzione Diagramma a bande Corrente di drift Corrente di diffusione Conclusioni D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 11 Deriva (drift) • Deriva = moto dei portatori in risposta all’applicazione di un campo elettrico • In assenza di campo elettrico, l’elettrone è agitato da solo moto browniano (spostamento netto = 0 • Il campo elettrico comporta una componente di deriva (c’è spostamento netto ≠ 0) F D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 12 Corrente di deriva F L qNh qNhv h qpv h • Densità di corrente di lacune: j Atf AL • • • • • q = carica della lacuna Nh = numero di lacune nel volume tf = tempo per percorrere una distanza L vh = velocità di deriva della lacuna Considerando anche gli elettroni: j q( pv h nv e ) D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 13 Mobilità • Introducendo il concetto di mobilità: j q( p p nn )F q m m* • La mobilità è data da: • Valori tipici per semiconduttori intrinseci: Si GaAs n [cm2V-1s-1] 1360 8000 p [cm2V-1s-1] 460 320 D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 14 Scattering • I principali effetti di scattering sono: – fononi fn, fp – impurezze ionizzate in, ip – difetti (e.g. stati interfacciali e rugosità nel canale del MOSFET) • Generalmente i vari contributi si sommano come se fossero resistenze in serie regola di Matthiessen: 1 1 1 ... n fn in 1 1 1 ... p fp ip D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 15 Dipendenza dalla temperatura • La teoria 3prevede che: – f T 2 la mobilità limitata da fononi diminuisce all’aumentare della T, a causa della maggiore densità di fononi (agitazione termica3 del reticolo) – i T 2 / Ni la mobilità limitata da impurezze ionizzate aumenta all’aumentare di T, perché il portatore spende meno tempo vicino all’impurezza e il moto ne risente di meno – Nota Ni = ND+ + NAD. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 16 n in Si Si Intrinseco ND = 1016 cm-3 ND = 1017 cm-3 www.ioffe.ru D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 17 Mobilità di elettroni e lacune 1014 1016 1018 1020 cm-3 D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 18 Resistività 100 Resistivity [Wcm] • • F j q( pv h nv e ) q( p p nn )F s F s q p p n n Con s = conducibilità 1 e = resistività q p p n n Si 300K 10 p-Si 1 N = cost. 0,1 0,01 n-Si 0,001 1E+14 1E+15 1E+16 1E+17 1E+18 1E+19 D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 1E+20 NA,D [cm-3] 19 Effetto Hall • Metodo di misura della mobilità: VL L vh j qp pF W D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 20 Effetto Hall VL B ++ -+ + + vh - + + - F qv h B VH VH>0 D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 21 Effetto Hall VL B -- - -- ++ + + ve ++ + F qv e B VH VH<0: il segno di VH indica il tipo di semiconduttore D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 22 Effetto Hall VL B ++ -+ + + vh - + + - F qv h B qv hB qFH VL VH p B L W VH VH>0 VH L 1 p VLW B D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 23 Effetto Hall VL B ++ -+ + + vh - + + - VH VH>0 VH L 1 p VLW B j qp pF È possibile ricavare la concentrazione di drogante NA p D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 24 Saturazione della velocità • Ad alti campi elettrici la legge v = F non viene più rispettata: la velocità satura • Il motivo sta nel fatto che l’energia del portatore diventa confrontabile con quella del fonone ottico ħw = 37 meV (Ge) e 63 meV (Si) il portatore perde energia appena supera la soglia di generazione del f.o. e non ad un tempo medio fissato (m) come a bassi campi • Affligge il transistore MOS ad alti campi/canali corti: la velocità non è più proporzionale al campo trasversale e quindi il guadagno dipende solo linearmente (e non quadraticamente) dalla tensione di gate D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 25 Risultati a T = 300K Si: 107 cm/s Ge: 6x106 cm/s D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 26 Comportamento in Si, Ge • Modello empirico: F v (F ) v sat F F 1 v sat • Interpretazione: appena si raggiunge l’energia per generare un fonone ottico ħwLO, lo si genera azzerando l’energia cinetica: v max 1 2 m v max wLO v sat 2 2 wLO 2m v vsat t D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 27 Comportamento nel GaAs • Si spiega considerando la sua struttura a bande: la valle in L è a solo 0.31 eV dalla valle G (m*G = 0.063m0) scattering intervalle, i portatori energetici sono trasportati in L e qui sperimentano una maggiore massa efficace (m*L,l =1.9m0, (m*L,t =0.075m0) v G L L G X F D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 28 Trasporto balistico • Finora abbiamo assunto che la lunghezza tipica del dispositivo (e.g. lunghezza del canale del MOS L) sia molto maggiore del libero cammino medio l • Tuttavia se L<l o circa uguale, dobbiamo trarre diverse conclusioni: trasporto balistico (senza scattering) e overshoot di velocità v L<l L>>l t D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 29 Outline • • • • • Introduzione Diagramma a bande Corrente di drift Corrente di diffusione Conclusioni D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 30 Moto browniano • A T≠0 le particelle (e.g. atomi/molecole in un gas, portatori in un metallo/semiconduttore) sono agitati da moto termico • Esisterà una distribuzione di velocità, tempi di scattering, cammini liberi medi: noi facciamo ricorso ai seguenti valori medi: • vth = velocità media alla temperatura T • = tempo medio di scattering • l = libero cammino medio (l = vth) D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 31 Concentrazione disuniforme n -l 0 l x • In presenza di una variazione spaziale di concentrazione (e.g. di elettroni), i flussi non sono uniformi corrente di diffusione • Facciamo il bilancio dei flussi di diffusione attraverso la superficie a x = 0 D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 32 Flusso di diffusione verso destra n -l 0 l x • Flusso f (particelle che transitano in un tempo dal segmento l di sinistra a quello di destra): 1 l 2 1 f n v th [cm s ] 2 2 • Solo metà delle particelle vanno a destra, le altre vanno a sinistra (in media) D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 33 Flusso di diffusione verso sinistra n -l 0 l x • Flusso f (particelle che transitano in un tempo dal segmento l di destra a quello di sinistra): 1 l f n v th [cm 2 s 1 ] 2 2 • Il flusso netto si ottiene dalla somma algebrica dei contributi D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 34 Prima legge di Fick n -l 0 l x 1 l l f f f v th n n 2 2 2 1 dn l dn l 1 dn dn f v th n(0) n(0) v th l Dn 2 dx 2 dx 2 2 dx dx • Con Dn [cm2s-1] = diffusività, coefficiente di diffusione D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 35 Diffusività 1 Dn 2 v th l l v th 1 kT m * v th2 2 1 2 kT kT q kT Dn v th n 2 m* q m* q • Oppure in termini della tensione termica: Dn Vth n Dp Vth p • Questa va sotto il nome di legge di Einstein – la ricaveremo sulla base di altri argomenti più avanti D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 36 Seconda legge di Fick n -l 0 l x • Bilancio sul segmento l centrato in 0: dn Dn dx l 2 l l dn f f l [cm 2 s 1 ] 2 2 dt dn dn d 2n l dn d 2n l Dn Dn 2 2 dx l dx 0 dx 0 2 dx 0 dx 0 2 2 2 d n dn dn d 2n Dn 2 l l Dn 2 dx 0 dt dt dx D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 37 Corrente di diffusione fn n fp p dn jn qDn dx x dp j p qDp dx x D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 38 Legge di Einstein EC EV EF n NCe EC EF kT ND-NA x • Si consideri un semiconduttore con drogaggio non omogeneo all’equilibrio • Drogaggio non omogeneo EC-EF non uniforme • All’equilibrio EF = costante D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 39 Legge di Einstein EC fdiff fdrift EF EV dn jn qnnF qDn 0 dx dEC dV 1 dEC dn F j n n n qDn 0 dx q dx dx dx n NCe EC EF kT d log n dn dn dn j n nn kT qDn n kT qDn 0 dx dx dx dx Dn n kT q D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 40 Corrente totale • Corrente di elettroni: dn jn qnnF qDn dx • Corrente di lacune: dp j p qp pF qDp dx • Corrente totale: dn dp j jn j p qnnF qDn qp pF qDp dx dx • 3D: j j n j p qnn F qDn n qp p F qDp p D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 41 Conclusioni • Il diagramma a bande ci aiuta nella comprensione e descrizione del trasporto nei semiconduttori • Corrente di drift descritta dal concetto di mobilità, a parte effetti ad alti campi: saturazione e overshoot di velocità • L’effetto Hall offre la possibilità di misurare la mobilità e la concentrazione di drogante • Corrente di diffusione, link con il drift mediante la legge di Einstein D. Ielmini – Elettronica dello Stato Solido 13 42