Analisi mineralogica Diffrattometro a raggi X Analisi qualitativa

Analisi mineralogica
Diffrattometro a raggi X
Analisi qualitativa:
identificazioni delle fasi
cristalline attraverso la
lettura del diffratogramma
Analisi quantitativa
Metodo Rietveld è un metodo di affinamento di una struttura che utilizza
l’intero profilo di diffrazione misurato con un diffrattometro per polveri
Analisi chimica
Spettometria: interazione materia radiazioni
elettromagnetiche
ü  Spettometria ad assorbimento atomico AAS
ü  Spettometria al plasma a accoppiamento induttivo in
spettometria di massa ICP MS
ü  Spettometria di fluorescenza a raggi X XRF
ü  Attivazione neutronica, spettrometria di raggi gamma INAA
Spettometria di FLUORESCENZA A RAGGI X XRF è la
tecnica più comune utilizzata nell’ambito dei beni
culturali.
Vantaggio: analizzare contemporaneamente elementi
maggiori e minori e in tempi brevi
Svantaggi: analisi distruttiva, analizzare solo elementi
con Z>11
ICP-MS
Spettrometria di massa: gli atomi degli elementi presenti nel
campione vengono trasformati in ioni. Questi sono fatti passare
attraverso uno spettrometro di massa costituito da un campo
magnetico, separati in base al loro rapporto massa/carica e
portati al rivelatore.
L’intensità del segnale elettrico causato dall’impatto degli ioni
sul rivelatore è correlabile alla concentrazione degli elementi nel
campione.
INTERPRETAZIONE DEI DATI CHIMICI
Banche dati
Attendibilità dei confronti
Integrazione dei dati petrografici e mineralogici
Tematiche archeologiche e tecnologiche
Trattamento statistico dei dati:
CLUSTER ANALYSIS :Lo scopo è quello di raggruppare le unità
sperimentali in classi secondo criteri di similarità
L’idea principale su cui si
basa l’PCA è quella di
rappresentare
un insieme di dati multivariati
con un numero inferiore di
variabili non correlate che
siano ottenute da una
particolare combinazione
lineare delle variabili
originali e che riassumano le
caratteristiche dei dati.
MICROANALISI
SEM-EDS microscopia a scansione elettronica con spettometro a
dispersione di energia
Possibilità di visualizzare strutture a forte ingrandimento (da 10X a
100.000X).
Particolarmente importante, soprattutto nel campo delle scienze dei
materiali, è la possibilità di effettuare una analisi composizionale con
risoluzione spaziale dell'ordine del micron.