- spiegare per quale motivo l’effetto di una giunzione p/n potrebbe scomparire all’aumentare della temperatura illustrare i meccanismi attraverso cui si può avere trasporto di carica nei semiconduttori. Queli sono le principali differenze rispetto ai metalli? illustrare le tecniche note per la misura del profilo di drogaggio in una regione di semiconduttore (quattro punte, C-V) illustrare i modelli che descrivono i fenomeni di generazione-ricombinazione nei semiconduttori quali dipendenze esistono fra mobilità dei portatori, temperatura e drogaggio? Come si possono spiegare queste dipendenze? come si imposta un problema di determinazione della distribuzione del potenziale e della concentrazione dei portatori in un dispositivo a semiconduttore? iniezione laterale a regime sotto illuminazione: regione semi-infinita e regione finita determinazione della distribuzione del potenziale, del campo elettrico e della carica a cavallo di una giunzione p/n brusca ed asimmetrica cosa è la resistenza di strato (sheet resi stance)? Come si determina? Che utilità ha? come dipende dal profilo di drogaggio? Cos’è la capacità di giunzione? Ricavare la sua espressione Ricavare la caratteristica I-V di un diodo a giunzione: modello base (diffusione), contributo della ricombinazione nella regione di carica spaziale, elevati livelli di iniezione, contributo della resistenza serie delle regioni neutre Descrivere l’origine del fenomeno del restringimento della banda proibita. Descriverne gli effetti ed il modello utilizzato per il calcolo della concentrazione dei portatori. Modello a controllo di carica del diodo p-n Caratteristiche dei diodi pin Calcolo della tensione di breakdown per diodi pin corti e lunghi Illustrare le componenti dominanti della corrente nei diodi pin in polarizzazione diretta Illustrare le fasi del processo di spegnimento di un diodo a giunzione p/n (o pin). Spiegare in che modo è possibile velocizzare lo spegnimento lasciando inalterata la corrente nella fase in polarizzazione diretta (IF) Descrivere la formazione del diagramma a bande in una struttura MOS Regimi di polarizzazione di una struttura MOS Capacità del sistema MOS, dipendenza della C dalla frequenza del segnale Descrivere gli effetti del body effect Determinazione della tensione di soglia nella struttura MOS Metodi per la correzione della tensione di soglia nelle strutture MOS Determinazione della caratteristica I-V di del MOSFET Fenomeni del secondo ordine nella determinazione della caratteristica I-V di un MOSFET Il transistor prototipo e il BJT integrato: funzionamento e componenti della corrente Effetto Early nel BJT Resistenza distribuita di base e suoi effetti stima del tempo di transito nel BJT modello di Ebers-Moll tecnologia BiCMOS uso delle eterogiunzioni per il miglioramento delle caratteristiche dei BJT