CIG 04162371A3 – Capitolato Tecnico Pagina 1 di 1 Gara a procedura aperta per l’affidamento del contratto per la fornitura e installazione di un microscopio elettronico a trasmissione (TEM) presso il Center for Nanotechnology Innovation dell’Istituto Italiano di Tecnologia CIG 04162371A3 Capitolato Tecnico Fondazione Istituto Italiano di Tecnologia ‐ Italian Institute of Technology Sede Legale: Via Morego, 30 16163 Genova Uffici di Roma: Via Sicilia, 194 00187 Roma Tel. 010 71781 Fax. 010 720321 C.F. 97329350587 CIG 04162371A3 – Capitolato Tecnico Pagina 2 di 2 SPECIFICHE TECNICHE Le caratteristiche di seguito indicate rappresentano i requisiti tecnici minimi che il Microscopio Elettronico a Trasmissione (nel seguito anche “TEM”) deve possedere. E’ accettabile un TEM con requisiti tecnici superiori a quelli minimi richiesti. Il TEM si intende nuovo di fabbrica, esente da vizi, completo di tutti gli accessori necessari al suo funzionamento e al soddisfacimento delle specifiche tecniche richieste. Nel sito di installazione verranno garantite tutte le utenze necessarie al funzionamento del TEM (gas tecnici quali azoto, elio, CO2 e aria compressa, elettricità, acqua raffreddata a 15 gradi) e le specifiche tecniche offerte in termini di risoluzione finale dovranno essere fornite insieme ai parametri ambientali minimi di funzionamento (rumore elettromagnetico, vibrazionale, acustico). Microscopio Elettronico a Trasmissione (TEM) con filtro in energia (EELS) • Sorgente di emissione: W o LaB6; • Tensione di accelerazione: fino a 120 kV con regolazione continua o a piccoli passi della tensione stessa fino a partire da un minimo di almeno 40 kV; • Risoluzione di reticolo: almeno 0.2 nm con allegata descrizione tecnica dettagliata della risoluzione stimata nelle varie condizioni di lavoro; • Risoluzione di punto: almeno 0.4 nm, con allegata descrizione tecnica dettagliata della risoluzione stimata nelle varie condizioni di lavoro; • Descrizione tecnica accurata del sistema elettro-ottico (zoom, parallelismo, omogeneità, aberrazioni) con particolare dettaglio delle soluzioni adottate per migliorare la risoluzione e l’illuminazione del campione; • Goniometro di tipo eucentrico con 5 assi motorizzati predisposto per contenere una vasta gamma di portacampioni (analitici, singolo e doppio tilt e di tipo speciale); • Portacampioni ad alto angolo di tilt (uguale o superiore a +-70°) per tomografia; • Predisposizione per analisi di campioni biologici, con allegata descrizione tecnica che garantisca il miglior contrasto e la migliore risoluzione; • Software di acquisizioni immagini tomografiche in automatico e di generazione delle immagini ricostruite in 3D; • Sistema da vuoto con almeno una pompa primaria (a secco) ed una pompa turbomolecolare e presenza di una configurazione di vuoto con allegata descrizione tecnica che dimostri la minimizzazione del grado di contaminazione del campione nella camera di lavoro; descrizione tecnica dettagliata del sistema di vuoto impiegato; • Predisposizione per tecnica di criomicroscopia; • Imaging sia in tecnica TEM che STEM, sia in campo chiaro che in campo scuro con relativo software di gestione e controllo; • Risoluzione STEM di almeno 1.5 nm; Fondazione Istituto Italiano di Tecnologia ‐ Italian Institute of Technology Sede Legale: Via Morego, 30 16163 Genova Uffici di Roma: Via Sicilia, 194 00187 Roma Tel. 010 71781 Fax. 010 720321 C.F. 97329350587 CIG 04162371A3 – Capitolato Tecnico • • • • • • • • Pagina 3 di 3 Filtro in energia in colonna o post-column (EELS) con risoluzione in energia migliore o uguale a 2 eV; Predisposizione o presenza di imaging EELS a perdita zero di energia o a perdita di energia definita, con relativo software di gestione e controllo (imaging parallelo, risolto lateralmente, risolto per angolo); Diffrazione TEM e software per l’acquisizione e la misura dei parametri del pattern di diffrazione ottenuto; CCD-camera in asse con la colonna da almeno 2k x 2k pixel raffreddata ad effetto Peltier; Schermo a fluorescenza con microscopio ottico con ingrandimento di almeno 5x per l’osservazione diretta dell’immagine TEM su di esso; Predisposizione per la installazione di un sistema di microanalisi a dispersione di energia (EDS) sia hardware che software che non riduca le specifiche tecniche del microscopio stesso in termini di risoluzione TEM, STEM, EELS; Interfaccia di controllo manuale analogico/digitale (hard panel) per la gestione dei parametri di controllo elettro-ottici; Sistema di acquisizione e controllo costituito da una workstation (PC) con sistema operativo pari in caratteristiche tecniche a sistemi quali “Windows XP”, Vista o “Windows 7”, uno o due monitor da minimo 19”, hard disk da almeno 500 Gbytes, interfacce di rete e USB, lettore e masterizzatore DVD, software di gestione dell’acquisizione dati; GARANZIA E SERVIZI RICOMPRESI NELLA FORNITURA INSTALLAZIONE Il TEM dovrà essere consegnato, montato e reso funzionante, a completa cura ed onere del fornitore, al piano terra dell’edificio sito a Pisa, in Piazza San Silvestro 12. Il montaggio comprenderà, inoltre, il cablaggio elettrico alle prese predisposte in sede e la connessione ai punti di erogazione dei gas tecnici, dotati di attacco per tubo di tipo rilsan. FORMAZIONE A completa cura ed onere del fornitore, dovrà essere tenuto un corso di formazione all’uso degli strumenti, di durata complessiva non inferiore a 5 gg. presso la sede del CNI di Pisa. Le modalità di svolgimento del corso saranno definite successivamente all’installazione. ASSISTENZA TECNICA Per un periodo di almeno dieci anni successivo al positivo collaudo degli strumenti, il fornitore è obbligato a fornire la componentistica di ricambio necessaria per la corretta manutenzione e riparazione degli strumenti. Fondazione Istituto Italiano di Tecnologia ‐ Italian Institute of Technology Sede Legale: Via Morego, 30 16163 Genova Uffici di Roma: Via Sicilia, 194 00187 Roma Tel. 010 71781 Fax. 010 720321 C.F. 97329350587 CIG 04162371A3 – Capitolato Tecnico Pagina 4 di 4 CONDIZIONI DI GARANZIA Durata non inferiore a mesi 12. Intervento on-site entro il termine di 5 (cinque) giorni lavorativi dalla comunicazione. Eliminazione del vizio entro 15 giorni lavorativi dalla comunicazione. Penale di Euro 250,00/gg per ritardata eliminazione del vizio oltre il termine di cui sopra, oltre rimborso per eventuali danni indiretti. AGGIORNAMENTI SOFTWARE Il fornitore è obbligato a fornire al committente, per almeno 10 anni dall’installazione e senza costi a carico del committente, tutti gli aggiornamenti dei software installati; Fondazione Istituto Italiano di Tecnologia ‐ Italian Institute of Technology Sede Legale: Via Morego, 30 16163 Genova Uffici di Roma: Via Sicilia, 194 00187 Roma Tel. 010 71781 Fax. 010 720321 C.F. 97329350587