SCUOLA DI CRISTALLOGRAFIA DIFFRATTOMETRICA Organizzata dal Centro interdipartimentale di Cristallografia Diffrattometrica CrisDi 2013 La scuola è rivolta a dottorandi e laureati ed è gratuita. La lingua sarà quella italiana con l’inglese opzionale a richiesta. È organizzata in moduli facoltativi. L’iscrizione ai corsi è obbligatoria. Al termine di ogni modulo verrà rilasciato un attestato di frequenza (1 credito = 4 ore). La scuola proposta avrà la sua collocazione temporale nei mesi di giugno e luglio 2013. La programmazione definitiva e i moduli relativi all’iscrizione sono pubblicati nel sito www.CrisDi.unito.it e www.ARC.unito.it . Per qualsiasi informazione si faccia riferimento al dr. A. Agostino ([email protected] ) CORSI DI BASE Docente: prof. P.Benna Auletta 2 (via P-Giuria 7) 27 maggio 2013 ore 9-11 Auletta 2 (via P-Giuria 7) 28-29 maggio 2013 ore 9-12 CRISTALLOGRAFIA DESCRITTIVA o o o o 2CFU (8 ore) Stato Cristallino. Elementi di simmetria. Gruppi puntuali e spaziali. Esempi. Reticolo diretto e reciproco. Esercizi. Lettura tavole internazionali Docente: prof. G. Ferraris Auletta 2 (via P-Giuria 7) 30-31 maggio 2013 ore 9-11 CRISTALLOGRAFIA DIFFRATTOMETRICA o o o o o o 1CFU (4 ore) Interazione raggi-x materia Teoria cinematica Ewald, Laue, Bragg Fattore di diffusione atomico Fattore di struttura e intensità diffratta Moto termico Docente: dott. A. Agostino Auletta 2 (via P-Giuria 7) 30-31 maggio 2013 ore 11-13 ELEMENTI STRUMENTALI PER DIFFRAZIONE RX o o o o generazione di raggi-X monocromatizzazione rivelatori geometrie focalizzanti e parafocalizzanti 1CFU (4 ore) Docente: prof. C. Lamberti Auletta 2 (via P-Giuria 7) 3 maggio 2013 ore 11-13 DIFFRAZIONE DI NEUTRONI o o o o ½CFU (2 ore) concetto di cross section in diffrazione neutronica confronto diffusione raggi-X/neutroni strumentazione applicazioni Docente: dott. A. Agostino Auletta 2 (via P-Giuria 7) 3-7 giugno 2013 ore 9-11 N° max = 10 studenti La frequenza ai laboratori verrà definita direttamente dal docente in accordo con gli studenti DIFFRAZIONE DI RAGGI X DA POLVERI CRISTALLINE o o 2 ½CFU (10 ore) Diffrazione di polveri i. Principi ii. Design sperimentale iii. Preparazione dei campioni iv. Principali aberrazioni strumentali v. Funzione di profilo Analisi dei dati i. Analisi qualitativa ii. Riduzione dati iii. Analisi quantitativa Docente: dott. D. Marabello Auletta 2 (via P-Giuria 7) 10-14 giugno 2013 ore 9-11 N° max = 10 studenti La frequenza ai laboratori verrà definita direttamente dal docente in accordo con gli studenti DIFFRAZIONE DEI RAGGI X DA CRISTALLO SINGOLO 2 ½CFU (10 ore) o Definizione e selezione cristallo singolo o Strumentazione o Determinazione della cella o Raccolta dei dati LABORATORIO - I PARTE o Elaborazione dei dati o Risoluzione e affinamento della struttura (metodi diretti e minimi quadrati) o Valutazione critica dei risultati o Informazioni ricavate e banche dati cristallografiche LABORATORIO - II PARTE CORSI SPECIALISTICI Cristallo singolo Docente: dott. G. Di Nardo Auletta 2 (via P-Giuria 7) 3-6 giugno 2013 ore 11-13 STRUTTURISTICA DI MACROMOLECOLE BIOLOGICHE o o o 2CFU (8 ore) Cristallizzazione delle proteine: requisiti e strategie: • preparazione del campione; • metodi di cristallizzazione delle proteine e diagramma di fase; • screening delle condizioni di cristallizzazione; • ottimizzazione dei cristalli proteici: seeding e screening aggiuntivi; • co-cristallizzazione con ligandi: soaking. Diffrazione dei raggi X delle proteine: • preparazione dei crioprotettanti; • montaggio del cristallo sul diffrattometro. Metodi per la risoluzione della struttura: • molecular replacement; • sostituzione isomorfa multipla. Docente: prof. G. Ferraris Auletta 2 (via P-Giuria 7) 17-19 giugno 2013 ore 9-11 CRISTALLOCHIMICA INORGANICA o o o o o 1 ½CFU (6 ore) Basi della cristallochimica inorganica Strutture tipo derivabili da impacchettamenti compatti di sfere Tipi strutturali nei silicati (silicati a strato, zeoliti) Materiali lamellari Strutture microporose Polveri cristalline Docente: dott. A. Agostino Auletta 2 (via P-Giuria 7) 25-28 giugno 2013 ore 9-11 N° max = 10 studenti IL METODO DI RIETVELD o o Teoria di Rietveld Applicazione pratica su dati reali 2CFU (8 ore) Tecniche combinate Docente: prof. E. Belluso Auletta 2 (via P-Giuria 7) 10-13 giugno 2013 ore 11-13 UTILIZZO DEL TEM-EDS PER LA CARATTERIZZAZIONE DI FASI INORGANICHE SUB-MICROMETRICHE NATURALI O SINTETICHE 2CFU (8 ore) o o o Preparazione dei campioni Raccolta di dati: • morfologici • di diffrazione elettronica • composizionali semi-quantitativi • strutturali Rielaborazione dei dati raccolti Docente: prof. C. Lamberti Auletta 2 (via P-Giuria 7) 25-26 giugno 2013 ore 11-13 TECNICHE SPETTROSCOPICHE E COMBINATE (DIFFRATTOMETRICHE/SPETTROSCOPICHE) PER DETERMINAZIONI STRUTTURALI 1CFU (4 ore) o o o o Extended X-ray Adsorption Fine Structure (EXAFS) Diffraction Anomalous Fine Structure (DAFS) X-ray Standing Waves (XSW) Esempi Docente: prof. A. Ferrari Aule Informatiche (To Exp.) - Aula 3 Chimica (corso M.D’Azeglio) 25-28 giugno 2013 14-16 MODELLIZZAZIONE DI PROPRIETÀ DELLO STATO SOLIDO o o o o Introduzione al codice “CRYSTAL09” Proprietà dielettriche ed elettroniche dei solidi Equazioni fondamentali Casi di studio 2CFU (8 ore) ore