Titolo:
Test progettazione “TP209816DO”
ID No:
QPTR-01
REV.: 1.0
PAGE: 1/7
Test progettazione “TP209816DO”
History
Rev
1.0
Date
APR 03
Description
Test progettazione TP209816DO
By
Parenzan
Author: Parenzan
Approved D.T.
Approved Q.A.
Date:
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Test progettazione “TP209816DO”
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Indice
1. Scopo del test ............................................................................................ 3
2. Modalità di esecuzione .............................................................................. 3
3. Condizioni ambientali ed operative ............................................................ 4
3.1. Elenco strumentazione ........................................................................ 4
3.2. Operatore ............................................................................................ 4
3.3. Lista delle verifiche .............................................................................. 5
4. Registrazione risultati ................................................................................ 6
5. Valutazione dati ......................................................................................... 6
6. Tabella di approvazione ............................................................................. 7
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Test progettazione “TP209816DO”
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1. Scopo del test
Lo scopo del test e’ quello di verificare il progetto del modulo TP209816DO avendo come riferimento
il documento di specifica.
2. Modalità di esecuzione
Le prove sono state condotte utilizzando un modulo Cpu TP4092ICU con software monitor per
TpWire e modulo TP209816DOsotto test.
I comandi al monitor TpWire sono stati forniti tramite PC con programma terminale ASCII settato a
115200,n,8,1 collegato alla scheda con relativo cavo seriale.
Il monitor TpWire e’ stato configurato per una velocita’ di 48Mbit/s.
Durante il test e’ stato utilizzato un modulo TP109916DI per rilevare lo stato delle uscite della
TP209816DO in test con un set di 16 cavi di richiusura 1:1 montati sulle morsettiere delle schede.
La tensione di alimentazione nominale e’ stata settata a 24Vdc.
La verifica delle commutazioni delle uscite e’ stata eseguita su ciascuna uscita tramite oscilloscopio
per tensione di alimentazione esterna variabile da 12 a 30V.
Ogni uscita e’ stata sovracaricata a 1A e verificato l’intervento della protezione termica con rilettura
da parte del master delle flag diagnostica. Ogni uscita e’ stata forzata bassa verificando che
applicandovi una tensione di 24V si attivasse la flag diagnostica.
E’ stato condotto il test di inversione della tensione esterna di alimentazione senza danneggiamento
dei drivers scheda.
I test sono stati condotti su tre esemplari di TP209816DO.
I test sotto riportati sono stati definiti in accordo ai criteri della norma IEC 1131-2, in particolare
“Verification Procedure 6.3.2.2”.
1) Durante I test non si devono verificare:
Distruzioni dell’hardware
Modifiche del sistema operativo e di programmi di test e/o alterazioni della loro esecuzione.
Modifiche dei dati in memoria o comunicati.
Comportamento anomalo del sistema PC o microprocessore.
Deviazioni delle uscite dai loro limiti di funzionamento.
2) Test di tutti gli I/O e dei canali di comunicazione
3) Test di tutte le condizioni di start-up e shut-down e reset.
4) Test di tutte le condizioni necessarie per il corretto funzionamento del modulo.
Con riferimento particolare alla scheda TP209816DO:
Si considera superato con successo ed indicato con PASSED un criterio di verifica di un test qualora:
Il test non comporti la distruzione fisica dell’hardware
La scheda non si porti in condizione di reset con indicazione visiva del led rosso acceso
Le logiche implementate vengano correttamente inizializzate al power-up.
La comunicazione tra scheda, master TP4092ICU ed eventuali altri slave presenti in rete non subisca
alterazioni o perdite di dati
Un determinato stato delle uscite non vari e venga correttamente riletta dal master durante tutta la
durata del test
I led che indicano lo stato degli ingressi non subiscano variazioni di stato rispetto alla condizione
forzata durante il test
I driver di uscita non subiscano danni termici, per tensione di alimentazione rovescia e limite di
corrente.
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3. Condizioni ambientali ed operative
Temperatura amb.
Umidità
24.5 °C
40-65%
3.1. Elenco strumentazione
Oscilloscopio HP 4chnl 150Mhz
Multimetro HP 34401A 6+1/2 digit
Alimentatore stabilizzato regolabile HP E3631A
Cavi richiusure ingressi – uscite digitali 1:1 per morsettiere
Scheda cpu TP4092ICU
Modulo TP209816DO sotto test
Modulo TP109916DI campione
PC con software di terminale ASCII
Software monitor TpWire
3.2. Operatore
Dipartimento incaricato:
Lab. Hardware
Persona incaricata:
Parenzan Giovanni
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3.3. Lista delle verifiche
Criteri di verifica durante il Test
Assorbimento sul +5V
tutte uscite OFF
Assorbimento sul +5V
tutte uscite ON
Funzionamento 5V per 30’ 0C
Funzionamento 5V per 30’ 70C
Funzionamento 4.75V per 30’
Funzionamento 5.25V per 30’
Funzionamento dopo 1000 cicli
ON/OFF
Attivazione singola uscita per 30’
Vext=24V Iout=500mA
Attivazione singola uscita ed intervento
termico limitazione corrente. Rilettura
uscita diagnostica
Prova di cortocircuito con uscita ON
Rilettura uscita diagnostica. Vext=30V
Forzatura uscita bassa. Applicazione di
Vext=30V sull’uscita. Rilettura uscita
diagnostica
Inversione tensione di alimentazione
esterna
24V.
Attivazione tutte le 16 uscite con
Vext=24V e Iout=500mA
Test attivazione uscite digitali con
rilettura Vext=12V Temperatura=0C
Test attivazione uscite digitali con
rilettura Vext=12V Temperatura=70C
Test attivazione uscite digitali con
rilettura Vext=30V Temperatura=0C
Test attivazione uscite digitali con
rilettura Vext=30V Temperatura=70C
Verifica funzionamento led indicazione
stato ingressi digitali
Verifica pinout connettore segnali input
output modulo in test
Prove EFT Burster tester L+N+PE
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Valori limite
Tolleranze
Max 140mA
Valore
misurato
120mA
Esito del
Test e note
PASSED
Max 300mA
190mA
PASSED
Nessuna
anomalia
Nessuna
anomalia
Nessuna
anomalia
Nessuna
anomalia
Nessuna
anomalia
Min 500mA
Nessuna
anomalia
Nessuna
anomalia
Nessuna
anomalia
Nessuna
anomalia
Nessuna
anomalia
Nessuna
anomalia
Iout = 1A
PASSED
Test su 16
uscite
Test su 16
uscite
Nessuna
anomalia
Nessuna
anomalia
PASSED
Maggiore di
30V
35V
PASSED
Durata 100s
Nessuna
anomalia
Nessuna
anomalia
Nessuna
anomalia
Nessuna
anomalia
Nessuna
anomalia
Nessun
Errore
Nessun
errore
2500V
PASSED
Maggiore
800mA
Nessuna
anomalia
Nessuna
anomalia
Nessuna
anomalia
Nessuna
anomalia
Nessun
Errore
Nessun errore
2000V
PASSED
PASSED
PASSED
PASSED
PASSED
PASSED
PASSED
PASSED
PASSED
PASSED
PASSED
PASSED
PASSED
PASSED
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fronte + e Prove EFT Burster tester / fronte + e -
1000V
1200V
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PASSED
4. Registrazione risultati
Tensione alimentazione campo a 12Vdc:
Carico resistivo I=500mA su ogni uscita.
Test ok. Temperatura 46º C in prossimita’ driver potenza.
Tensione alimentazione campo a 24Vdc:
Carico resistivo I=500mA su ogni uscita.
Test ok. Temperatura 63º C in prossimita’ driver potenza.
Tensione alimentazione campo a 24Vdc:
Carico resistivo I=800mA su ogni uscita.
Test ok. Intervento protezione dopo 40 secondi partendo con scheda a temperatura ambiente 20º
Temperatura 90º C in prossimita’ driver potenza mantenendoli in protezione.
Verificati livelli segnale di fail sui driver di potenza e corrispondente optoisolatore verso fpga
Le temperature sono state misurate con sistema in contenitore TH a 1cm dalla superfice della scheda
disposta in posizione orizzontale.
Pwm settato con freq uscita a 100hz .
Verificato possibilita’ inversione polatita’ ciclo pwm
Verificata regolazione da 1% a 100% con risoluzione a 12bit
Vista la risposta in frequenza degli optoisolatori il limite di frequenza del pwm e’ di 500hz per valori
compresi tra il 10% ed il 90%.
Il test di richiusura I/O digitale e’ stato ripetuto con temperatura ambientale di –20° C e
successivamente di +70° C.
Il test di richiusura I/O digitale e’ stato ripetuto alimentando il sistema tramite EFT500 a 2500V
sull’alimentazione in accoppiamento L, N, PE con polarita’ + e -. Inoltre e’ stato condotto il test
sempre con EFT500 sui cavi di richiusura I/O a 1200V con polarita’ + e -.
5. Valutazione dati
I risultati ottenuti confermano i dati della progettazione
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6. Tabella di approvazione
Test n°
Data di esecuzione
Operatore
Ente incaricato esecuzione test.
Procedura utilizzata
SI
NO
Ulteriori test (spiegazione)
Approvazione finale
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Azioni finali ed approvazione
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