Trasporto dei portatori all’equilibrio termico gli elettroni in banda di conduzione (le lacune in banda di valenza) si muovono per agitazione termica 3 energia termica = 2 kT (k costante di Boltzmann) 1 3 2 mn vth = kT vth = velocità termica ≈ 107 cm sec a 300K 2 2 in equilibrio termico il moto è casuale e la corrente totale è nulla gli eventi di diffusione (scattering) hanno diversa origine Fisica Dispositivi Elettronici – CdL Informatica A.A. 2003/4 Meccanismi di scattering scattering da fononi: gli atomi vibrano intorno alle posizioni reticolari. In meccanica quantistica le vibrazioni sono quantizzate (fononi). Il trasferimento di energia dagli elettroni al reticolo è chiamato scattering fononico. scattering da impurezze ionizzate (importante ad elevate concentrazioni di drogaggio) scattering da impurezze neutre (trascurabile) scattering elettrone-elettrone e elettrone-lacuna (importante ad elevate concentrazioni di portatori) scattering da difetti cristallini (importatnte in materiali policristallini) scattering di superficie (importante in dispositivi tipo MOS, molto sottili). Fisica Dispositivi Elettronici – CdL Informatica A.A. 2003/4 Libero cammino medio distanza media tra le collisioni = libero cammino medio lm l m ≈ da 10nm a 1µ m in Si vth = velocità termica ≈ 107 cm sec a 300K 10−5 cm τc ≈ 7 ≈ 1 psec 10 cm sec La maggior parte dei processi di ricombinazione e trasporto avvengono su tempi liberi medi (o liberi cammini medi) molto più lunghi di 1 psec permette di trattare le situazioni di non-equilibrio come perturbazioni dell’equilibrio termico Fisica Dispositivi Elettronici – CdL Informatica A.A. 2003/4 Moto di trascinamento applicando un campo elettrico Є, una forza -qЄ agirà sull’elettrone (+qЄ sulla lacuna) nell’intervallo di tempo che intercorre tra due urti eguagliando l’impulso (forza x tempo), acquisito dall’elettrone tra due urti, alla sua quantità di moto − qЄτ c = mn vn qτ c ⇒ vn = − m n da cui vn = −µn Є qτ c cm2 µn = mobilità dell 'elettrone mn V g sec analogamente v p = µ p Є moto microscopico Fisica Dispositivi Elettronici – CdL Informatica A.A. 2003/4 moto macroscopico Moto di trascinamento la mobilità è legata direttamente al tempo libero medio tra collisioni τc , che è determinato dai vari meccanismi di scattering il moto degli elettroni, in media, avviene lungo una direzione opposta ad Є (moto di trascinamento “drift”) Fisica Dispositivi Elettronici – CdL Informatica A.A. 2003/4 Mobilità La relazione lineare tra μ ed Є, vale solo per campi relativamente deboli Per campi elevati vd ∼ vth e vd “satura” al valore v sat = velocità limitata dallo scattering ≈ 107 cm sec per elettroni in Si ≈ 6 × 10 cm sec per lacune in Si Il campo critico a cui avviene la saturazione va le 6 Єc = 2 ×10 4 V cm = 2 V µm Fisica Dispositivi Elettronici – CdL Informatica A.A. 2003/4 Velocità di saturazione questo fatto diventa importante con la progressiva diminuzione di dimensioni dei dispositivi ! Fisica Dispositivi Elettronici – CdL Informatica A.A. 2003/4 Velocità di saturazione µ dipende anche da altri fattori come temperatura e drogaggio (scattering) Fisica Dispositivi Elettronici – CdL Informatica A.A. 2003/4 Trasporto dei portatori la probabilità di scattering in un intervallo dt vale dt = dt τ c se i meccanismi di scattering agiscono indipendentemente dt = ∑ dt τ i , poichè i due meccanismi di scattering: impurezze µ∝T3/2 fononi µ∝T-3/2 Fisica Dispositivi Elettronici – CdL Informatica A.A. 2003/4 µ ∝ τ si ha 1 1 =∑ µ i µi Effetto del drogaggio su µ Fisica Dispositivi Elettronici – CdL Informatica A.A. 2003/4 Corrente elettrica sotto l’azione del campo elettrico si ha un flusso di corrente I n = A∑ −qvi = −qAnvdn = qAnµ n Є i analogamente I p = qApv dp = qAp µ pЄ I A = J = ( I n + I p ) A = q ( n µn + p µ p ) Є L V = poichè Є = V L A I V L 1 1 ρ= = = I A q ( n µn + p µ p ) σ R=ρ ρ = resistività (ohm·cm) Fisica Dispositivi Elettronici – CdL Informatica A.A. 2003/4 σ = conducibilità (ohm-1·cm-1) Resistività del silicio Fisica Dispositivi Elettronici – CdL Informatica A.A. 2003/4