Manganiti e Magnetoresistenza Colossale Simone Gentile Tutor Dott.Antonello Tebano 18 luglio 2008 Sommario In questo lavoro in una prima parte presentiamo un riassunto sulle caratteristiche chimico fisiche più importanti delle manganiti e sul fenomeno della Magnetoresistenza Colossale; trattiamo poi in linea generale la tecnica Pulsed Laser Deposition con cui i film oggetto delle nostre misure sono stati realizzati. I film e le misure sono stati effettuati nei laboratori di fisica della materia della nostra università. Accenniamo poi a prospettive tecnologiche future e alle problematiche che coinvolgono la magnetoresistenza colossale; infine riportiamo i risultati di un lavoro sperimentale, (svolto nel mese di ottobre scorso) in cui abbiamo effettuato su un campione di 10 celle unitarie e su uno di 8 di La.67 Sr.33 M nO3 delle misure di magnetoresistenza mediante la tecnica della misura a quattro punte. 1 Simone Gentile Attività formativa Indice 1 Importanti caratteristiche fisico–chimiche delle manganiti con CMR 4 1.1 Struttura cristallografica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4 1.2 Struttura elettronica . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 5 1.3 Occupazione degli orbitali . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6 1.4 Ordinamento degli spin . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 6 1.5 Interazioni di scambio . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 7 1.6 Conduttività elettrica e ordinamento dei portatori di carica . . 8 1.7 Transizione metallo-isolante e CMR . . . . . . . . . . . . . . . 9 1.8 Separazione di fase . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10 2 Crescita e struttura dei film sottili 11 2.1 Pulsed Laser Deposition . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 11 2.2 Epitassia e microstruttura interna . . . . . . . . . . . . . . . . 12 3 Cenni sulla Spintronica 14 4 Lavoro sperimentale 4.1 Misura a quattro punte . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4.2 Misure con campo magnetico nullo . . . . . . . . . . . . . . . 4.3 Considerazioni sulle misure con campo magnetico nullo . . . . 4.3.1 Variazioni della resistività all’aumentare dei cicli termici 4.4 Misure con campo Magnetico . . . . . . . . . . . . . . . . . . 4.5 Considerazioni sulle misure con campo magnetico . . . . . . . 4.5.1 Spostamento temperatura di transizione metallo–isolante 4.5.2 Caduta della resistenza dovuta al campo magnetico . . 15 16 19 20 20 23 26 26 27 Bibliografia 32 Università di Tor Vergata 2 Simone Gentile Attività formativa Introduzione Argomento di grande interesse nel mondo della ricerca ai giorni d’oggi sono gli ossidi di manganese a valenza mista; essi manifestano una transizione da metallo a isolante (TI−M ) accompagnata dagli effetti della Magnetoresistenza Colossale (CMR). Per questi materiali la TI−M coincide anche con la temperatura di transizione dalla fase paramagnetica alla fase ferromagnetica, temperatura di Curie (TC ). I fenomeni fisici alla base del comportamento delle manganiti sono complessi e sono legati soprattutto alle interazioni elettrone-reticolo ed elettrone-elettrone. Le proprietà strutturali, magnetiche e dei portatori di carica delle manganiti sono intrinsecamente correlate. Inoltre, gli effetti della CMR e la presenza di una fase metallica con conduttività caratterizzata da polarizzazione totale degli spin, sono le premesse per un potenziale sviluppo tecnologico. Le perovskiti a valenza mista La1−x Mx M nO3 studiate teoricamente e sperimentalmente negli anni 50, manifestano un comportamento antiferromagnetico per valori di x molto vicini a 0 o molto vicini a 1, hanno invece comportamento ferromagnetico quando x ≈ 13 . Questo comportamento fu spiegato sulla base del meccanismo di doppio scambio. Dal 1993 fu svolto molto lavoro di ricerca sugli ossidi a valenza mista specialmente per le manganiti RE1−x Mx M nO3 , dove RE sta per terre rare e M per gli elementi (Ca, Sr, Ba, Pb) droganti. La loro struttura tridimensionale è quella di una perovskite. Lo studio fu portato avanti su campioni policristallini, su cristalli singoli e su film sottili; in seguito furono studiati anche altri ossidi con CMR come le manganiti stratificate La2−2x Sr1+2x M n2 O7 e Sr2 M oF eO6 . Nel nostro lavoro tratteremo film sottili. Università di Tor Vergata 3 Simone Gentile 1 Attività formativa Importanti caratteristiche fisico–chimiche delle manganiti con CMR 1.1 Struttura cristallografica La struttura degli ossidi RE1−x Mx M nO3 è simile a quella della perovskite cubica1 (ortorombico)[fig.1]. Figura 1: Struttura cristallografica della perovskite La posizione A è occupata dagli ioni più grandi, RE trivalenti, e da M bivalente con 12 legami con l’ossigeno. Gli ioni Mn nello stato di valenza mista M n3+ − M n4+ sono collocati al centro di un ottaedro ai cui vertici c’è l’ossigeno con cui si stabiliscono 6 legami (sito B). Le proporzioni stechiometriche degli ioni di M n3+ e di quelli M n4+ sono rispettivamente 1 − x e x. Il manganese assume tale valenza mista poichè, quando il LaM nO3 viene drogato con un metallo bivalente (Ca, Sr, Ba o Pb), parte del La viene sostituito da tale metallo e affinchè il materiale sia elettricamente neutro è necessario che una parte del Mn bilanci il drogante e l’altra bilanci il La rimanente. 1 La perovskite è un minerale scoperto nel 1839 sui monti Urali da Gustav Rose. Il suo nome fu dato in memoria del mineralogista russo L. A. Perovski (1792-1856). Tutti gli ossidi strutturalmente simili e con formula bruta ABO3 appartengono al gruppo delle perovskiti o dette con struttura perovskite. Negli ultimi decenni hanno ricevuto notevole interesse in quanto possiedono importanti proprietà fisiche quali la ferro-, piezo-, e piroelettricità, superconduttività, elettro-ottiche e catalitiche. Università di Tor Vergata 4 Simone Gentile 1.2 Attività formativa Struttura elettronica L’atomo di manganese isolato possiede cinque orbitali degeneri allo stesso livello energetico per gli elettroni con l=2 di ogni ione 3d. In un cristallo l’interazione con l’ossigeno e con il campo cristallino, permette di ridurre parzialmente la degenerazione. I cinque orbitali d sono separati dal campo cristallino cubico in tre orbitali t2g e in due orbitali eg [fig.2] su due livelli energetici differenti; la distorsione Jahn-Teller2 induce poi un’ulteriore separazione dei cinque livelli [fig.3]. Figura 2: I cinque orbitali degeneri Per l’ottaedro di M nO6 , il salto energetico tra l’orbitale più basso e quello più alto è di circa 1,5 eV. Per gli ioni M n3+ e M n4+ , le interazioni tra gli atomi assicurano l’allineamento parallelo degli spin degli elettroni (prima regola di Hund3 ); la corrispondente energia di scambio è circa 2,5 eV (più grande del salto energetico dovuto al campo cristallino)[fig.3]. M n3+ è 3d4 , 2 L’effetto di Jahn-Teller o distorsione omonima descrive la distorsione geometrica delle molecole non lineari in certe situazioni. L’effetto sostanzialmente consiste nel fatto che qualsiasi molecola non lineare con uno stato energetico fondamentale degenere subirà una distorsione che rimuoverà la degenerazione 3 Le regole di Hund sono regole empiriche che danno informazioni sullo stato fondamentale degli atomi in meccanica quantistica. Le regole sono quattro: 1. La configurazione del guscio è quella per cui il momento angolare di spin è massimo (compatibilmente con la prima regola). 2. La configurazione è quella per cui il momento angolare orbitale è il massimo compatibile con la regola precedente. 3. Deve essere minima l’interazione spin-orbita ~ λ(~s · L) Università di Tor Vergata 5 Simone Gentile Attività formativa ↑ 4+ t3↑ è 3d3 ,t3↑ 2g eg con S=2 mentre M n 2g con S=3/2. I loro rispettivi momenti magnetici sono 4 µB e 3 µB . Figura 3: Energy gap 1.3 Occupazione degli orbitali L’ordinamento degli orbitali influenza fortemente la direzione lungo la quale si trasferiscono gli elettroni. L’anisotropia derivante favorisce o si oppone all’interazione di doppio scambio e vincola le cariche a determinati percorsi lungo gli orbitali. Si stabiliscono cosı̀ complessi stati accoppiati spin-orbita. L’ordinamento degli orbitali è influenzato anche dalla distorsione Jahn-Teller. Mostriamo di seguito differenti tipi di ordinamento degli orbitali negli ossidi di manganese perovskitici [fig.4]. 1.4 Ordinamento degli spin L’interazione con gli atomi adiacenti fa sı̀ che gli spin degli elettroni si allineino in una determinata maniera. Due tipi differenti di allineamento sono presenti: il primo ferromagnetico secondo il quale gli spin sono disposti parallelamente l’uno all’altro; il secondo antiferromagnetico in cui gli spin adiaUniversità di Tor Vergata 6 Simone Gentile Attività formativa Figura 4: Ordinamento degli orbitali centi sono antiparalleli. L’ordinamento antiferromagnetico a sua volta si suddivide in tre sottocasi: il tipo–A in cui l’accoppiamento degli spin all’interno del piano è ferromagnetico mentre quello interplanare è antiferromagnetico; il tipo–C in cui l’accoppiamento degli spin all’interno del piano è antiferromagnetico mentre quello interplanare è ferromagnetico e il tipo–G in cui sia l’accoppiamento interplanare che quello intraplanare è antiferromagnetico [fig.5]. Figura 5: Ordinamento degli spin 1.5 Interazioni di scambio Le proprietà magnetiche delle manganiti sono governate dalle interazioni di scambio tra gli spin dello ione di Mn. Le interazioni tra due spin di Mn separati da un atomo di O sono molte e sono controllate dalla sovrapposizione tra l’orbitale d del manganese e l’orbitale p dell’ossigeno. La corrispondente interazione dipende dalla configurazione dell’orbitale. Generalmente, per i legami tra M n4+ −O−M n4+ , l’interazione è AF, mentre per i legami M n3+ − O − M n3+ potrebbe essere o ferromagnetica o AF (come per il LaM nO3 dove entrambe le fasi coesistono). Un caso particolare e molto interessante è quello del M n3+ − O − M n4+ per il quale gli ioni di Mn possono scambiare la Università di Tor Vergata 7 Simone Gentile Attività formativa loro valenza grazie ad un salto simultaneo dell’elettrone nell’orbitale eg del M n3+ sull’orbitale 2p dell’O e da questo sull’orbitale eg vuoto dell’M n4+ . Questo meccanismo di doppio scambio4 (DE) assicura una forte interazione di tipo ferromagnetico. In prima approssimazione si possono trascurare le interazioni tra M n3+ − M n3+ perché esse sono contemporaneamente F e AF, dipendono dalla configurazione orbitale e coesistono nello stesso composto. Supponendo il superscambio AF tra M n4+ − M n4+ e l’interazione di doppio scambio, F, della stessa entità, la relazione che lega la temperatura di Curie alla concentrazione x di ioni M n4+ è TC ∼ 2x(1 − x) − x2 , la quale è massima per x = 31 . Tale legge deriva dalla teoria di campo medio. 1.6 Conduttività elettrica e ordinamento dei portatori di carica Il trasferimento dell’elettrone eg dal M n3+ al M n4+ tramite il DE è il meccanismo basilare della conduzione elettrica nelle manganiti. In quelle con un DE forte, l’elettrone eg diviene delocalizzato nella fase ferromagnetica per un certo grado di drogaggio intorno a x = 13 e scendendo a temperature inferiori ai 300 - 350 K si stabilisce uno stato FM. In contrasto con gli altri metalli ferromagnetici 3d (Ni,Fe) dove le bande di spin opposti sono entrambe occupate, quelle delle manganiti sono separate da almeno 1 eV [fig.3] e la banda ad energia più alta è vuota, conducendo a un comportamento semimetallico. La banda di conduzione delle manganiti è a spin totalmente polarizzati ed è di grande interesse per potenziali applicazioni della Spintronica (dedicheremo successivamente a questo argomento un paragrafo). Le manganiti con x < 0.5 hanno la banda di conduzione più che semipiena mentre quelle con x > 0.5 hanno una banda di conduzione riempita meno della metà rispetto alla propria capacità e cosı̀ i rispettivi portatori di carica sono lacune ed elettroni. Esse sono per ora etichettate rispettivamente come manganiti drogate con lacune e manganiti drogate con elettroni. Aumentando x oltre 0.5 il numero di legami ferromagnetici dovuti al DE diminuisce e quello delle coppie AF di M n4+ aumenta. Inseriamo qui di seguito [fig.6] il diagramma di fase della manganite in funzione del livello di drogaggio in cui possiamo vedere come varia la temperatura di Curie in funzione di x e dove avvengono le transizioni di fase. 4 Il movimento da un atomo all’altro è facilitato se gli elettroni non devono cambiare la direzione dello spin per soddisfare le regole di Hund. La medesima direzione dello spin prima e dopo lo scambio permette una più facile conduzione elettronica Università di Tor Vergata 8 Simone Gentile Attività formativa Figura 6: Diagramma di fase del La1−x Mx M nO3 1.7 Transizione metallo-isolante e CMR Le manganiti semplici con forte DE, come La1−x Mx M nO3 con x ≈ 13 , manifestano la transizione da una fase (P) paramagnetica semiconduttiva o da una fase isolante (I) ad alte temperature, a una fase FM a basse temperature [fig.6]. Nella fase P solitamente la resistività elettrica esibisce una forte dipendenza dalla temperatura. Differenti leggi ρ(T ) sono state utilizzate per spiegare i risultati sperimentali ognuna delle quali ha diverse origini fisiche; ciò che ne emerge è però che in un ristretto range di temperature è impossibile fare delle discriminazioni tra queste leggi. Al di sotto della temperature di Curie l’allineamento spontaneo degli spin di Mn permette una delocalizzazione degli elettroni eg , generando una bassa resistività per la fase FM per T << TC ; questo allineamento può essere indotto per T ≥ TC e rinforzato per T ≤ TC applicando un campo magnetico esterno. L’ effetto massimo si ha per T vicino a TC poiché la suscettività magnetica5 diverge C . Quindi queste manganiti manifestano una grande per T −→ TC , χ = T −T C magnetoresistenza negativa, la CMR il cui picco è attorno a TC e una caduta di resistività trascurabile mano a mano che ci si sposta verso temperature più basse [fig.7]. In generale, poiché la resistività della fase P aumenta no5 La suscettività magnetica misura il grado di magnetizzazione in un materiale in corrispondenza di un campo magnetico. Rappresentata dal simbolo χ, essa risulta essere il rapporto χ = M H dove M è la magnetizzazione ed H il campo magnetico applicato.Se χ è positiva, allora il materiale è detto paramagnetico ed il campo magnetico è potenziato dalla presenza del materiale stesso; se la suscettività è invece negativa, il materiale è detto diamagnetico ed il campo è indebolito dal materiale. Università di Tor Vergata 9 Simone Gentile Attività formativa tevolmente diminuendo la temperatura e quella della fase F diminuisce al diminuire di T, la CMR è molto più grande al diminuire della TC , per un dato livello di drogaggio. Figura 7: Comportamento tipico di una manganite Il La1−x Srx M nO3 insieme alla manganite in cui M = Ca è stata oggetto di molti studi poiché possiede il valore massimo di TC , (∼ 370 K) per x ≈ 13 e può essere facilmente cresciuta in singoli grandi cristalli per x ≤ 0.4. 1.8 Separazione di fase Attraverso studi computazionali su modelli realistici è prevista la separazione di fase elettronica per le manganiti ad un certo intervallo di drogaggio. In particolare per livelli di drogaggio (x) tra 0.9 e 1.5 e a temperature sotto i 150 K, una separazione di fase tra le regioni AF povere di lacune e quelle F ricche di lacune è uno stato energetico favorevole rispetto a quello in cui c’è una fase omogenea AF piegata (canted). L’energia dei portatori di carica è minima per l’ordinamento F. A causa di una densità non sufficiente per stabilire l’ordinamento F sull’intero campione, le cariche si concentrano all’interno di domini sferici (circolari se parliamo di film sottili) o all’interno di strisce che diventano FM all’interno della matrice isolante AF. Aumentando il livello di drogaggio le regioni FM cominciano a connettersi tra loro e si realizza una bassa resistenza sopra la soglia di percolazione (attraverso il cammino percolativo). Interessanti effetti di tunnelling dei portatori di carica tra i domini ferromagnetici avvengono poco al di sotto della soglia di percolazione. Università di Tor Vergata 10 Simone Gentile 2 Attività formativa Crescita e struttura dei film sottili Poiché molte applicazioni richiedono film sottili con buone proprietà elettriche e magnetiche, è di grande importanza riuscire a preparare film di alta qualità. Alcune tecniche per crescere manganiti sono: il reactive sputtering, ion beam sputtering, co-evaporation, chemical vapour deposition (CVD), e la pulsed laser deposition (PLD). 2.1 Pulsed Laser Deposition La tecnica PLD utilizza impulsi laser ad alta energia per ablare materiale dalla superficie di un target. Questo processo produce la plume che si espande dal target. Il materiale ablato si deposita su un substrato collocato di fronte al target formando il film sottile [fig.8]. Le applicazioni di questa tecnica variano dalla deposizione di materiali superconduttori per aumentare la loro durata e per la biocompatibilità per applicazioni mediche. Molti parametri influenzano la crescita del film, le più importanti sono: la pressione del gas all’interno della camera e la temperatura del substrato. Figura 8: Tecnica PLD e camera di crescita La PLD è uno dei metodi più semplici e versatili per la deposizione di ossidi complessi e inoltre permette di controllare bene la stechiometria del target. La crescita dei film avviene a pressioni dell’ordine di 10−1 mbar; tali pressioni impediscono però il monitoraggio in situ tramite la diffrazione di Università di Tor Vergata 11 Simone Gentile Attività formativa elettroni ad alta energia (RHEED) per l’elevato scattering. Per ovviare a ciò si utilizza una pressione di deposizione di ∼ 10−4 mbar utilizzando un gas a forte ossidazione (i.e. ozono, ossigeno atomico); si lavora cosı̀ in condizioni simili a quelle della tecnica Molecular Beam Epitaxy (MBE) e a depositare film con la precisione dell’ordine della singola cella (tale tecnica prende il nome di Laser-MBE). I campioni su cui noi abbiamo eseguito le misure sono stati cresciuti con la tecnica PLD, con un laser al kryptonfluoro con lunghezza d’onda λ = 248nm, con monitoraggio in situ tramite RHEED; contando le oscillazioni d’intensità del pattern di diffrazione elettronica. Riportiamo di seguito le oscillazioni del campione 798, [fig.9], e del campione 793, [fig.10], in funzione dei colpi laser sparati; si consideri che la frequenza dei colpi laser è 10 Hz e quindi possiamo interpretare l’asse delle ascisse anche come il tempo che trascorre nella crescita. Figura 9: Oscillazioni rheed campione 798 Tra i vantaggi della PLD citiamo i costi relativamente bassi, l’elevata qualità dei film ottenuti e la semplicità nella realizzazione. Tra gli svantaggi occorre dire che non si riescono a crescere film molto estesi poichè la superficie di deposizione rimane limitata; un altro svantaggio è il fatto che si deposita sulla superficie del particolato la cui presenza in parte si riesce a controllare. 2.2 Epitassia e microstruttura interna Una piccola distorsione della cella perovskitica unitaria influenza le proprietà delle manganiti, di conseguenza tutte le proprietà principali dei film sottili sono ovviamente governate dalla differenza tra il parametro reticolare del film e quello del substrato (mismatch). E’ di primaria importanza controllare la Università di Tor Vergata 12 Simone Gentile Attività formativa Figura 10: Oscillazioni rheed campione 793 microstruttura interna dopo la deposizione per comprendere i cambiamenti nelle proprietà sia magnetiche che elettriche. I più comuni cristalli singoli utilizzati come substrato per le manganiti sono SrT iO3 (a = 0.3905 nm, cubico, STO ), LaAlO3 (a = 0.3788 nm, pseudocubico, LAO), MgO (a = 0.4205 nm, cubico) e N dGaO3 (NGO, ortorombico, a = 0.5426 nm, b = 0.5502 nm, c= 0.7706 nm) [fig.11]. Figura 11: Simmetria cubica e tetragonale (a −a ) Il mismatch reticolare è definito δ = psubapsubpbulk . Valori positivi del mismatch corrispondono ad uno stress tensile (la cella si allunga nel piano del film e si comprime lungo la direzione di crescita) mentre valori negativi descrivono stress compressivi (la cella si allunga nella direzione di crescita e viene compressa sul piano del film). La tensione (strain) indotta dal mismatch col substrato produce una deformazione del reticolo che può essere analizzata dalla distorsione della cella unitaria. Questa distorsione è solitaUniversità di Tor Vergata 13 Simone Gentile Attività formativa mente misurata utilizzando la diffrazione di raggi X (XRD) e la microscopia elettronica ad alta risoluzione (HREM). I valori del parametro reticolare lungo la direzione di crescita (out of plane parameter) e quello lungo il piano del film (in plane parameter) possono essere calcolati in modo preciso dai picchi di diffrazione, mentre il microscopio elettronico indaga sui bordi di grano, l’interfaccia tra film e substrato, sulla presenza di difetti e dislocazioni. Anche le proprietà magnetiche delle manganiti sono influenzate dallo stato tensile o di compressione indotto dal substrato (in modo particolare ne viene influenzata la direzione che rappresenta l’asse di facile magnetizzazione della manganite). Una elongazione dell’ottaedro (che avviene quando il film subisce uno stress compressivo dovuto al substrato LAO) produce una anisotropia positiva mentre una compressione dello stesso (quando il film subisce uno stress tensile dovuto al substrato STO) determina un’anisotropia negativa [fig.12]. Per i film depositati su STO lo strain tensile e la risultante anisotropia uniassiale favorisce come asse di facile magnetizzazione quello che giace nel piano del film, mentre la direzione di crescita diventa l’asse favorito per film sottoposti a compressione dal substrato LAO. Figura 12: Strain indotti dal substrato 3 Cenni sulla Spintronica La spintronica costituisce il connubio tra l’elettronica ed il magnetismo proponendosi di affidare allo spin dei portatori di carica la codifica binaria, anzichè alla modulazione della carica elettrica. Lo spin, essendo quantizzato ed avendo due sole configurazioni possibili (up e down) si presta immediatamente all’implementazione del codice binario. I dispositivi spintronici vengono progettati in modo che si produca un’interazione tra un campo magnetico esterno alla struttura ed i portatori che fluiscono al suo interno; poichè alla proprietà intrinseca di spin è associato un momento magnetico, è idealmente Università di Tor Vergata 14 Simone Gentile Attività formativa possibile accoppiare a tale caratteristica una modulazione qualsiasi. Dispositivi spintronici universalmente diffusi sono le testine di lettura degli hard disk più recenti basati sulla GMR6 . Riguardo la Magnetoresistenza Colossale, oggetto del nostro studio, ancora non si riesce a ben comprendere l’effetto e occorre estendere le conoscenze sulla fisica delle manganiti, sulla loro struttura elettronica e sulla microstruttra interna, per la realizzazione degli elementi delle MRAM, di bolometri e di altri sensori magnetici. Una sostituzione di dispositivi a GMR con dispositivi a CMR che, grazie alla più sensibile dipendenza della resistenza dal campo magnetico permettano di utlizzare campi più deboli ancora non è possibile. Infatti si riesce ad ottenere la caduta di resistività necessaria per le applicazioni tecnologiche, ancora a temperature troppo basse inutilizzabili nei comuni pc e su film ancora troppo sottili; la CMR delle manganiti a valenza mista richiede comunque campi magnetici applicati abbastanza grandi, tipicamente di alcuni Tesla. Per quanto riguarda invece la crescita delle manganiti gli ostacoli in campo industriale sono: le alte temperature di deposizione (∼ 1000K); la scarsa diffusione della tecnica PLD a favore invece della CVD; il costo elevato dei substrati su cui le manganiti vengono depositate e come abbiamo già detto la limitata estensione della superficie di deposizione impedisce la lavorazione in serie su ampi wafer che invece viene effettuata ad esempio per il silicio. La realizzazione di nuovi dispositivi che sfruttano la magnetoresistanza colossale potrà forse un giorno far parte di quel processo di miniaturizzazione il cui sviluppo per i processori è descritto dalla legge di Moore7 . 4 Lavoro sperimentale Nel nostro lavoro sperimentale abbiamo effettuato su un campione di La.67 Sr.33 M nO3 di 10 celle (il 798) e su uno di 8 celle (il 793), cresciuti entrambi su substrato SrT iO3 , misure di magnetoresistenza. 6 La magnetoresistenza gigante (Giant magnetoresistence in inglese, da cui GMR) è un effetto quantistico di tipo magnetoresistivo, ovvero legato alla capacità dei corpi di variare la propria resistenza elettrica in presenza di campi magnetici esterni. Il fenomeno si osserva in sistemi di sottili pellicole metalliche, con alternanza di materiali ferromagnetici e non magnetici.L’effetto si manifesta in un abbassamento significativo del valore della resistenza elettrica in presenza di un campo magnetico, poiché questo allinea le magnetizzazioni degli strati ferromagnetici vicini (debolmente accoppiati). Negli strati non magnetici, l’allineamento dello spin degli elettroni è in egual numero parallelo ed antiparallelo al campo esterno, il che ne diminuisce l’ampiezza di scattering. Questo effetto viene utilizzato per la produzione di memorie MRAM e degli Hard disk. 7 Le prestazioni dei processori e il numero di transistor ad esso relativo, raddoppiano ogni 18 mesi. Università di Tor Vergata 15 Simone Gentile 4.1 Attività formativa Misura a quattro punte Figura 13: Schema della misura a quattro punte La misura di resistenza elettrica a quattro punte è una tecnica versatile molto utilizzata in fisica. Essa permette di svincolare la misura della resistenza del campione oggetto di misura da quella sui due contatti dovuta ai conduttori. Quando viene effettuata una semplice misura di resistenza elettrica di un campione, a questo si collegano due fili conduttori ma inavvertitamente si misura anche la resistenza dei contatti. Solitamente la resistenza di contatto, tra campione e fili conduttori, è molto più piccola rispetto a quella da misurare e può essere quindi trascurata. Per misure di resistenza molto piccole, precise e dipendenti dalla temperatura il valore della resistenza di contatto può influenzare fortemente i cambiamenti di resistenza del campione stesso. E’ necessario quindi cercare di escludere la sua componente. Gli effetti della resistenza di contatto possono essere eliminati attraverso la misura a quattro punte (four probe measurements) [fig.13]. La misura a quattro punte viene eseguita realizzando quattro contatti (noi abbiamo saldato fili sottili di rame con la silver) sul campione; attraverso due contatti viene fatta scorrere la corrente tramite un generatore di corrente, con gli altri due contatti si misura invece la caduta di potenziale dovuta alla resistenza del campione tramite un voltmetro digitale. Università di Tor Vergata 16 Simone Gentile Attività formativa Figura 14: Schema di una misura di resistenza classica La resistenza del campione è il rapporto tra il voltaggio registrato sul voltmetro digitale e la corrente in uscita del generatore di corrente. L’alta impedenza in ingresso del voltmetro permette di minimizzare il flusso di corrente attraverso la porzione di circuito che lo comprende; cosı̀, poichè non c’è caduta di potenziale tra le resistenze dei contatti che permettono la misura del voltaggio, si misura solamente la resistenza associata al campione. RiV ≈ ∞ ⇒ RC1 eRC2 << RiV ⇒ (1) Sul tratto di circuito ABCD idealmente non scorre corrente ed equivale quindi ad un circuito aperto ai cui capi (A e D) c’è una differenza di potenziale V. Sul film (RF ) scorre perciò solo la corrente dovuta al generatore di corrente A e appartenente alla maglia AFED. RAD = V = RF I In una misura di resistenza classica invece [fig.14]: RAD = Università di Tor Vergata V = RC3 + RF + RC4 I 17 Simone Gentile Attività formativa e non riesco a svincolarmi dalla resistenza dei conduttori. Gli strumenti da noi utilizzati sono stati: un Keithley 220 come generatore di corrente, un Keithley 182 come voltmetro, un termometro al platino, un cryocooler e una pompa da vuoto collegati ad un dito freddo neccessari per compiere le discese in temperatura a pressioni molto basse, [fig.15], e infine un magnete a bobine per generare il campo magnetico applicato ai campioni. Figura 15: Illustrazione apparato sperimentale Università di Tor Vergata 18 Simone Gentile 4.2 Attività formativa Misure con campo magnetico nullo Volendo capire bene come la resistenza si modificasse in base al deterioramento del campione, alle condizioni e alla ripetizione delle misure, abbiamo preferito effettuare prima delle misure in discesa e salita in temperatura in assenza di campo magnetico, registrare alcuni dati, sottolineare alcuni andamenti comuni e poi passare alle misure con campo magnetico vere e proprie. Figura 16: Prima misura con campo magnetico nullo. Campione 798 Sul campione 798 abbiamo effettuato alcune misure di resistenza senza campo magnetico in discesa e in salita di temperatura [fig.16], [fig.17]; tale procedimento è stato fatto anche sul campione 793 [fig.18]. Nella seconda misura sul campione 798, [fig.17], i valori della resistenza sono molto diversi rispetto al primo ciclo poichè abbiamo rifatto i contatti in silver necessari alla misura a quattro punte. Il valore della TC è variato invece di soli 3 K mantenendosi quindi vicino al valore precedente. Università di Tor Vergata 19 Simone Gentile Attività formativa Figura 17: Seconda misura senza campo magnetico. Campione 798 4.3 4.3.1 Considerazioni sulle misure con campo magnetico nullo Variazioni della resistività all’aumentare dei cicli termici In tutte le misure che abbiamo fatto possiamo notare dei valori delle resistenze scatterati; a volte misure effettuate nelle stesse condizioni sono sensibilmente differenti altre volte si sovrappongono solamente lungo alcuni tratti delle curve. Tutto ciò succede perchè possediamo campioni non patternati (un campione è patternato quando su di esso viene definito un percorso che la corrente dovrà seguire tra le due punte da cui viene iniettata e prelevata) e di conseguenza la corrente varia continuamente il suo percorso, passando delle volte all’interno di domini più resistivi mentre altre volte percolando domini dal comportamento metallico; tale condizione non ci permette di poter dare risultati precisi o analitici per quanto riguarda i valori di resistenza su cui c’è una forte incertezza ma ci limita a formulare considerazioni quaUniversità di Tor Vergata 20 Simone Gentile Attività formativa Figura 18: Misura con campo magnetico nullo. Campione 793 litative. Possiamo comunque sottolineare che nelle misure sopra riportate, tranne in pochissime eccezioni nelle quali i valori di resistenza coincidono in discesa e in salita [fig.16], emerge un’importante tendenza secondo la quale nel film sottile, all’aumentare delle discese e salite in temperatura, si verifica un progressivo aumento nella resistività, [fig.17]; sembra che di volta in volta all’interno del campione si modifichino i domini metallici e quelli isolanti, giungendo a una prevalenza di quest’ultimi. In pochissime occasioni nella salita in temperatura la manganite mostra una resistenza leggermente più bassa della precedente discesa ma se l’andamento viene analizzato globalmente, si delinea una pronunciata tendenza del campione a diventare più resistivo. Tale comportamento è stato mantenuto da entrambi i campioni da noi testati (798 e 793) quando abbiamo fatto delle misure ripetute anche in presenza di campo magnetico, [fig.20]. Analizzando quello che succede abbiamo provato a dare una spiegazione. Secondo noi nella transizione di fase, da paramagnetica isolante a ferromagnetica e viceversa, avvengono sostanzialmente due fenomeni: una variazione Università di Tor Vergata 21 Simone Gentile Attività formativa dell’orientamento degli spin e lo spostamento delle pareti di dominio. Nelle misure, tali fenomeni avvengono sia in discesa che in salita e a quanto sembra non sono totalmente reversibili. Una volta che il campione ritorna a temperatura ambiente nella fase paramagnetica isolante, è come se tenesse memoria di tale stato e ripartisse da questo nella nuova discesa e salita per superarlo nel momento in cui torna a circa 300 K. La transizione da fase FM a PI sembra cosı̀ un processo meno reversibile rispetto alla transizione opposta. Immaginiamo che dopo un certo numero di cicli il campione possa in sostanza rovinarsi, diventando più resistivo e che solo in seguito a una nuova cottura (i.e. occorrerebbe riportarlo a una temperatura di circa 1000 K, temperatura alla quale il film è stato depositato) la manganite riacquisterebbe le sue complete capacità paramagnetiche. Università di Tor Vergata 22 Simone Gentile 4.4 Attività formativa Misure con campo Magnetico Figura 19: Misura con campo magnetico. Campione 798 Siamo poi passati alle misure di magnetoresistenza; sul campione 798 abbiamo applicato un campo magnetico esterno di 0.8 T [fig.19]. Sul campione 793 abbiamo compiuto due misure di magnetoresistenza con campo magnetico di circa 0.7T orientandolo una volta in direzione perpendicolare al piano del film e una volta in direzione parallela al piano del film [fig.20]. Università di Tor Vergata 23 Simone Gentile Attività formativa Figura 20: Misure con campo magnetico. Campione 793 Tale campione, sempre una manganite La.67 Sr.33 M nO3 di 8 celle su substrato di SrT iO3 (STO), ha invece mostrato un comportamento molto diverso dal 798; tale film sottile dopo aver presentato una transizione metallo– isolante con variazione di resistenza non molto accentuata nella prima parte della discesa in temperatura, diventava invece fortemente resistivo nella seconda parte della discesa quando divergeva sotto i 170 K. Tale comportamento va spiegato grazie al fatto che al diminuire del numero di celle, le manganiti su STO, a causa di fenomeni interplanari ancora poco noti, tendono a diventare molto resistive e a transire a temperature sempre più basse [fig.21]. Queste manganiti pur presentando comportamento ferromagnetico [fig.21], in quanto tali domini sono in percentuale maggiore rispetto a quelli antiferromagnetici, rimangono isolanti poichè non c’è connessione percolativa tra i domini FM e la resistenza del campione è quindi elevata. Nelle misure con campo magnetico abbiamo verificato uno shift di 6 o 7 K nella temperatura di Curie a prova del fatto che le manganiti presentano una direzione privilegiata per gli effetti di magnetizzazione. Le manganiti Università di Tor Vergata 24 Simone Gentile Attività formativa Figura 21: Magnetizzazione in funzione di T e Tc in funzione del numero di celle depositate su substrato STO hanno la direzione parallela al piano del film come asse di facile magnetizzazione (in–plane direction). Università di Tor Vergata 25 Simone Gentile Attività formativa 4.5 Considerazioni sulle misure con campo magnetico 4.5.1 Spostamento temperatura di transizione metallo–isolante Figura 22: Confonto tra le misure con e senza campo magnetico Da questo grafico, [fig.22], si evince forse la caratteristica più importante delle nostre misure di magneto resistenza. Mentre come abbiamo già detto, per quanto riguarda i valori di resistenza abbiamo forte incertezza, nella misura della temperatura il nostro apparato sperimentale ci permette di poter dare risultati con la precisione di un paio di Kelvin. Nelle misure effettuate con campo magnetico vediamo un netto spostamento (shift) della temperatura di transizione metallo–isolante verso valori più elevati: si ha un incremento nella temperatura di Curie tra i 12◦ C e i 15◦ C quindi la transizione avviene prima nella discesa in temperatura. Possiamo provare a dare una spiegazione a tale comportamento dicendo che il campo magnetico esterno, applicato alla manganite, induce un orientamento degli spin nei domini magnetici presenti in una matrice ancora paramagnetica; questo orientamento forzato degli Università di Tor Vergata 26 Simone Gentile Attività formativa spin facilita il passaggio dalla fase paramagnetica a quella ferromagnetica e permette che esso avvenga a una temperatura più alta. 4.5.2 Caduta della resistenza dovuta al campo magnetico Figura 23: Prima discesa e grafico differenza (798) In questa sezione del nostro lavoro abbiamo confrontato la misura dei valori di resistenza trovati senza campo applicato con quelle col campo; ogni confronto è stato fatto su una stessa fase della misura, ossia o una discesa o una salita, [fig.23], [fig.24], [fig.25], [fig.26]. Le curve che evidenziano la funzione differenza hanno mostrato un andamento simile su misure differenti ma nella stessa fase del ciclo. Tutte quante hanno un picco attorno alla TC a prova della caduta di resistenza che avviene nel fenomeno della magnetoresistenza colossale. Tracciando però dei grafici di magnetoresistenza colossale R0 −RH , abbiamo notato che, a causa dei problemi che abbiamo nel misurare RH la resistenza senza un pattern sui campioni, l’andamento non è quello che ci Università di Tor Vergata 27 Simone Gentile Attività formativa Figura 24: Prima salita e grafico differenza (798) aspettiamo [fig.27]. I grafici di CMR sono riportati nello stesso ordine dei precedenti grafici differenza. Università di Tor Vergata 28 Simone Gentile Attività formativa Figura 25: Seconda discesa e grafico differenza (798) Università di Tor Vergata 29 Simone Gentile Attività formativa Figura 26: Seconda salita e grafico differenza (798) Università di Tor Vergata 30 Simone Gentile Attività formativa Figura 27: Grafici di magnetoresistenza Università di Tor Vergata 31 Simone Gentile Attività formativa Riferimenti bibliografici [1] A–M Haghiri–Gosnet and J–P Renard: CMR manganites: physics, thin film and devices.TOPICAL REVIEW,aprile 2003. [2] W. Prellier, Ph. Lecoeur and B. Mercey: Colossal magnetoresistive manganite thin films. Luglio 2006. [3] Lubna SHAH: Spintronics: Colossal Magnetoresistance. Department of physics, University of Delaware. [4] A. Tebano, G. Balestrino, N.G. Boggio, C. Aruta, B. Davidson and P.G. Medaglia: High–quality in situ manganite thin films by pulsed laser deposition at low background pressures. THE EUROPEAN PHYSICAL JOURNAL B, giugno 2006. [5] A. Tebano, C. Aruta, S. Sanna, P.G. Medaglia and G. Balestrino: Evidence of orbital reconstruction at interfaces in La0.67 Sr0.33 M nO3 films. [6] http://wikipedia.org/ [7] http://www.geocities.com/afserghei/LVE.htm [8] Colorado Superconductor; marzo 2001. Università di Tor Vergata 32