La moderna interferometria per misure industriali: stato dell'arte S. Donati, G. Giuliani Laboratorio di Elettroottica - Dipartimento di Elettronica - Università di Pavia e-mail: [email protected], [email protected] 1 Fiera della Microelettronica, Vicenza 2002 - Sessione 5: Introduzione Viene illustrata la tecnica convenzionale di interferometria laser, descrivendone i principi e gli sviluppi strumentali. In parallelo, viene presentata la configurazione interferometrica a retroiniezione, basata su diodo laser. Quest’ultima consiste in un approccio più semplice ed economico, che consente la realizzazione di strumenti di misura adatti agli impieghi industriali. Vengono prese in rassegna le principali applicazioni dell’interferometria alle misure industriali, di laboratorio e di controllo di processo. Sono analizzate le misure di spostamenti, velocità, distanza, e vibrazioni, illustrandone le peculiarità ed i limiti operativi, ed effettuando il confronto con tecniche alternative. 2 Fiera della Microelettronica, Vicenza 2002 - Sessione 5: Sommario Interferometria laser convenzionale Interferometria a retroiniezione con diodo laser Applicazioni industriali: Misura di spostamenti Misura di velocità Misura di distanza Misura di vibrazioni Altre applicazioni Conclusioni 3 Fiera della Microelettronica, Vicenza 2002 - Sessione 5: Applicazioni delle tecniche interferometriche Interferometria laser Impieghi tecnici Avionici • giroscopi RLG e FOG Industriali • interferometri per metrologia meccanica • velocimetri Doppler • ESPI (speckle-pattern) • analisi di vibrazioni • sensori a fibra ottica Impieghi scientifici s 1-100 km • telemetria spaziale di satelliti geodetici s 100 m • rilievo di meree terrestri • vibrometria per grandi strutture edili s1m • metrologia di lunghezza (e grandezze derivate) • gravimetri geodetici s 0.1 m • captazione motilità biologiche e flusso sanguigno 4 Fiera della Microelettronica, Vicenza 2002 - Sessione 5: Mercato mondiale Anno di riferimento: 1997 Fonti: OIDA, Laser Focus Interferometri laser Velocimetri Laser Doppler e Vibrometri ESPI (speckle-pattern) Misura diametri e dimensioni Telemetri e geodimetri Misure di Allineamento Volume [milioni di $] Incremento Anno di sviluppo 490 570 +5 % +5 % 1968 1975 70 50 +5 % +5 % 1974 1970 272 67 -0.5 % +10 % 1970 1970 5 Fiera della Microelettronica, Vicenza 2002 - Sessione 5: Interferometria Principio - 1 Interferometro ottico (lenti, specchi divisori di fascio) + Luce di lettura (laser He-Ne: coerenza spaziale e temporale) = Misura di spostamento con accuratezza e risoluzione < Interferometro a configurazione Mach-Zehnder SPECCHIO FASCIO LASER LASER DIVISORE DI FASCIO CAMMINO DI RIFERIMENTO BERSAGLIO CAMMINO DI MISURA FOTORIVELATORE 6 Fiera della Microelettronica, Vicenza 2002 - Sessione 5: Interferometria Principio - 2 Interferometro a doppio fascio (per rimuovere l’ambiguità della funzione interferometrica “coseno”) Corner-cube di riferimento Corner-cube fissato al bersaglio mobile I1 = I0·[1 + cos(2ks)] Fotorivelatori I2 = I0·[1 + sin(2ks)] k = 2/ = numero d’onda s = spostamento del bersaglio 7 Fiera della Microelettronica, Vicenza 2002 - Sessione 5: Misura di spostamento Prestazioni La misura dello spostamento è incrementale (per poter misurare la distanza tra due punti il bersaglio deve compiere tutto il cammino compreso tra essi) Risoluzione: tipica: /8 = 0.079 m; spostamento equiv. di rumore: < 1 pm per B = 1 Hz Precisione: 1 ppm (con correzione per T e P) Applicazioni industriali: Misura di coordinate di macchine utensili e di robot, taratura, automazione industriale, tecnologia dei semiconduttori Svantaggi: costi elevati, necessità di usare un bersaglio riflettente, procedura di allineamento complessa Tecniche concorrenti: misure a contatto, righe ottiche 8 Fiera della Microelettronica, Vicenza 2002 - Sessione 5: Interferometria a retroiniezione Principio L’Interferometria a Retroiniezione (o Modulazione Indotta) è una tecnica innovativa sviluppata presso l’Università di Pavia La sorgente laser è a semiconduttore (non a gas) ed è parte integrante dell’interferometro Una piccola frazione del campo retrodiffuso dal bersaglio rientra nella cavità laser, generando un segnale interferometrico sulla potenza emessa dal laser Vantaggi: assenza del cammino di riferimento, ridotto uso di ottiche, dimensioni compatte, basso costo BERSAGLIO FOTODIODO DI MONITOR DIODO LASER CAMMINO DI MISURA Fiera della Microelettronica, Vicenza 2002 - Sessione 5: 9 Interferometria a retroiniezione Misura di spostamenti - 1 Il segnale interferometrico è a dente di sega, ed è possibile discriminare il verso di movimento tramite un solo canale interferometrico. Si genera una frangia interferometrica ogni volta che il bersaglio si sposta di /2 s spostamento del bersaglio DIODO LASER LENTE BERSAGLIO Target displacement [20mV/div] MONITOR PD [200ms/div] [1.2m/div] Segnale di modulazione indotta Schema per la misura di spostamenti con risoluzione /2 = 400 nm [3] Down Ampli transimp. Derivata Segnale di modulazione indotta Contatore Up-Down Discrimin. Polarità Up Display Derivata 100 s/div 10 Fiera della Microelettronica, Vicenza 2002 - Sessione 5: Interferometria a retroiniezione Misura di spostamenti - 2 Elevata sensibilità della configurazione a retroiniezione + Sistema di inseguimento di speckle = Interferometro per misure di spostamenti su superfici diffondenti [4] INTERFACCIA PC TESTA OTTICA UNITA’ ELETTRONICA 11 Fiera della Microelettronica, Vicenza 2002 - Sessione 5: Interferometria convenzionale Misura di velocità Bersaglio riflettente: mis. spostam. + derivata (d/dt) Sistemi di particelle sospese in fluidi: Laser Doppler Velocimetry - LDV (anemometria) SEGNALE FLUSSO PARTICELLE DI INTERFERENZA FASCI LASER T FRANGE DI INTERFERENZA TEMPO Velocità trasversale di superfici rugose (cartiere, estrusioni) OTTICHE DI SEPARAZIONE E RICOMBINAZIONE FASCI LASER RIVELATORE SUPERFICIE IN MOVIMENTO Fiera della Microelettronica, Vicenza 2002 - Sessione 5: 12 Interferometria a retroiniezione Misura di velocità Non richiede la separazione e la ricombinazione del fascio od un rivelatore separato: allestimento più compatto DIODO LASER DIODO LASER TAMBURO ROTANTE DISCO ROTANTE Misura di velocità sino a 60 m/s Possibilità di impiegare circuiti di inseguimento di speckle per rimediare alla perdita di segnale dovuta alla rugosità della superficie 13 Fiera della Microelettronica, Vicenza 2002 - Sessione 5: Interferometria a retroiniezione Misura di distanza assoluta Interferometria convenzionale: uso di lunghezze d’onda multiple ( “sintetica”) [5]. Approccio complesso . Interferometria a retroiniezione: modulazione della lunghezza d’onda di emissione del laser + conteggio frange di interferenza. Semplicità realizzativa . MODULAZIONE DI CORRENTE s DIODO LASER BERSAGLIO DIFFONDENTE Accuratezza: < 1 mm su distanze 13 m (10 m possibile) Tecniche alternative: Telemetria, Triangolazione 14 Fiera della Microelettronica, Vicenza 2002 - Sessione 5: Interferometria convenzionale Misura di vibrazioni Principio: LDV su superfici diffondenti o ESPI [6] Prestazioni velocità: da pochi m/s a 1000 mm/s frequenze: da 0.01 Hz a 20 MHz SCHEMA: INTERF. di MICHELSON SEZIONE DI RIVELAZIONE ESPANSORE DI FASCIO BERSAGLIO VIBRANTE POSSIBILITA’ DI SCANSIONE 2D LASER He-Ne Applicazioni: analisi modale, automotive, altoparlanti, PZT, strutture edili, NDT Svantaggi: costo elevato (1D: 20 kEuro; 2D: 200 kEuro) Fiera della Microelettronica, Vicenza 2002 - Sessione 5: 15 Interferometria a retroiniezione Misura di vibrazioni - 1 Principio: aggangio a metà frangia interferometrica tramite circuito elettronico di retroazione che agisce sulla del laser servo-vibrometro con dinamica >> /4 [7] Configurazione ottica estremamente semplice /2 SEGNALE MOD. IND. t PRINCIPIO: AGGANCIO A META’ FRANGIA DIODO LASER = 2ks FD MONITOR t BERSAGLIO DIFFONDENTE L1 SPOSTAMENTO DEL BERSAGLIO CIRC. DI RETROAZIONE L2 CONV. V I AMP. TRANS-Z - FILTRO LP SEGNALE OUT A DIODO LASER TESTA OTTICA 16 Fiera della Microelettronica, Vicenza 2002 - Sessione 5: Interferometria a retroiniezione Misura di vibrazioni - 2 UNITA’ ELETTRONICA TESTA OTTICA RMS Displacement 10 um 1 um MOTORE A 2100 RPM 100 nm 10 nm 1 nm 100 pm 0 Sensibilità: Max. vibrazione: Banda: Dinamica 100 pm/Hz 600 m p-p 70 kHz > 100 dB 40 80 120 Frequency [Hz] Funzionamento 160 200 su tutte le superfici rugose Vantaggi: misura combinata vibrazione/ distanza/spostamento; basso costo (fattore 2-4 risp. LDV) sensore di linea industriale 17 Fiera della Microelettronica, Vicenza 2002 - Sessione 5: Conclusioni Le tecniche interferometriche hanno ottenuto un notevole successo nell’ambito scientifico ed industriale, grazie alla non-invasività ed all’elevata accuratezza. Per alcune applicazioni (soprattutto nel campo dei sensori e delle misure in linea) il costo elevato costituisce un ostacolo alla diffusione di questi metodi. E’ stata presentata la tecnica interferometrica a modulazione indotta sviluppata dall’Università di Pavia che, grazie alla semplicità realizzativa ed al basso costo, è particolarmente indicata per le applicazioni industriali. 18 Fiera della Microelettronica, Vicenza 2002 - Sessione 5: Bibliografia [1] F. Docchio, S. Donati, “L’interferometro laser per l’industria”, AEI, Milano, 1995. [2] J. Dukes, G. Gordon, “A two-hundred foot yardstick with graduation every microinch”, Hewlett Packard Journal, v. 21, p. 2, 1970. [3] S. Donati, G. Giuliani, S. Merlo, "Laser diode feedback interferometer for measurement of displacements without ambiguity", IEEE J. Quantum Electron., v. 31, pp. 113-119, 1995. [4] M. Norgia , S. Donati, D. D'Alessandro : "Interferometric Measurements of Displacement on a Diffusing Target by a Speckle-Tracking Technique", IEEE J. Quantum Electron., v. 37, pp. 800806, 2001 [5] U. Minoni, E. Gelmini, “Interferometria a multi-lunghezza d’onda”, in: F. Docchio, S. Donati, “L’interferometro laser per l’industria”, AEI, Milano, 1995, pp. 127-143. [6] M. Facchini, G. Martini, “Interferometria Speckle Pattern Elettronica a fibra ottica”, in: F. Docchio, S. Donati, “L’interferometro laser per l’industria”, AEI, Milano, 1995, pp. 145-166. [7] G. Giuliani, S. Donati, L. Monti, “Self–Mixing Laser Diode Vibrometer with Wide Dynamic Range”, 5th Intl. Conf. on Vibration Measurements by Laser Techniques, Ancona, June 2002. [8] V. Annovazzi-Lodi, S. Merlo, M. Norgia, "Comparison of Capacitive and FeedbackInterferometric Measurements on MEMS”, IEEE J. Microelectromech. Syst., v. 10, pp. 327335, 2001. 19 Fiera della Microelettronica, Vicenza 2002 - Sessione 5: